• Treffer 1 von 1
Zurück zur Trefferliste

Everything SAXS Part 1: Introduction, Sample Requirements and Measurement "Space"

  • This talk for the Swiss Society for Crystallography (SSCr) workshop on SAXS will introduce scattering from various angles, focusing in particular on: - Information content of X-ray scattering experiments, three entry points… - An introduction to Fourier Transforms - Sample criteria, compatibility, and selection - Key indicators of a measurement – where is the information? - Key indicators of measurement quality - Experiment planning, the basics

Volltext Dateien herunterladen

  • 20230907_Part_1.pdf
    eng

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Brian Richard PauwORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.5 Synthese und Streuverfahren nanostrukturierter Materialien
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Data stewardship; Holistic experiment approaches; MOUSE; Measurement science; X-ray scattering
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Nano
Veranstaltung:Topical workshop of the Swiss Society for Crystallography
Veranstaltungsort:Zurich, Switzerland
Beginndatum der Veranstaltung:08.09.2023
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:14.09.2023
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.