Evidence of damage evolution during creep of Al–Mg alloy using synchrotron X-ray refraction
- In order to provide further evidence of damage mechanisms predicted by the recent solid-state transformation creep (SSTC) model, direct observation of damage accumulation during creep of Al–3.85Mg was made using synchrotron X-ray refraction. X-ray refraction techniques detect the internal specific surface (i.e. surface per unit volume) on a length scale comparable to the specimen size, but with microscopic sensitivity. A significant rise in the internal specific surface with increasing creep time was observed, providing evidence for the creation of a fine grain substructure, as predicted by the SSTC model. This substructure was also observed by scanning electron microscopy
Autor*innen: | Sandra Cabeza, Bernd R. MüllerORCiD, R. Pereyra, R. Fernández, G. González-Doncel, Giovanni BrunoORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of applied crystallography |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung | |
Verlag: | Wiley |
Jahrgang/Band: | 51 |
Erste Seite: | 420 |
Letzte Seite: | 427 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Aluminium alloys; Creep; Damage; Electron microscopy; Synchrotron X-ray refraction; subgrain structure |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Material | |
Material / Degradation von Werkstoffen | |
DOI: | 10.1107/S1600576718001449 |
ISSN: | 1600-5767 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 04.04.2018 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 19.04.2018 |