Critical evaluation of fast and highly resolved elemental distribution in single cells using LA-ICP-SFMS
- The analytical potential of a nanosecond laser ablation coupled plasma mass spectrometer (ns-LA-ICP-SFMS)system is investigated for fast and highly spatially resolved (~µm) elemental distribution within single cells. The size, morphology and overlapping of laser-induced craters has been investigated with Atomic Force Microscopy (AFM).
Autor*innen: | J. Pisonero, D. Bouzas-Ramos, Heike Traub, Brunero CappellaORCiD, C. Álvarez-Llamas, Silke RichterORCiD, J. C. Mayo, J. M. Costa-Fernandez, N. Bordel, Norbert JakubowskiORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of Analytical Atomic Spectrometry |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Organisationseinheit der BAM: | 9 Komponentensicherheit |
9 Komponentensicherheit / 9.5 Tribologie und Verschleißschutz | |
Verlag: | RSC |
Jahrgang/Band: | 34 |
Ausgabe/Heft: | 4 |
Erste Seite: | 655 |
Letzte Seite: | 663 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Atomic Force Microscopy; Elemental Distribution; Laser Ablation |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
DOI: | 10.1039/c8ja00096d |
ISSN: | 0267-9477 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 29.07.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |