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Characterization of nanoparticles by scanning electron microscopy

  • In this chapter sample preparation, image acquisition, and nanoparticle size and shape characterization methods using the scanning electron microscope (SEM) in reflective and transmitted working modes are described. These help in obtaining reliable, highly repeatable results. The best solutions vary case-by-case and depend on the raw (powdered or suspension) nanoparticle material, the required measurement uncertainty and on the performance of the SEM.

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Autor*innen:A. E. Vladár, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Persönliche Herausgeber*innen:Vasile-Dan Hodoroaba, Wolfgang Unger, A. G. Shard
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Characterization of nanoparticles - Measurement processes for nanoparticles
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Erste Seite:7
Letzte Seite:27
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Electron microscopy; Nanoparticles; SEM; Sample preparation; Shape; Size measurement; Threshold
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Nano
DOI:10.1016/B978-0-12-814182-3.00002-X
ISBN:978-0-12-814182-3
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/50284
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:15.01.2020
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:18.06.2020
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