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Secondary ion mass spectrometry

  • This chapter provides an introduction in secondary ion mass spectrometry as one of the leading surface chemical analysis and imaging techniques with molecular specificity in the field of material sciences. The physical basics of the technique are explained along with a description of the typical instrumental setups and their modes of operation. The application paragraph specifically focuses on nanoparticle analysis by SIMS in terms of surface spectrometry, imaging, analysis in organic and complex media, and depth profiling. A review of the existing literature is provided, and selected studies are showcased. Limitations and pitfalls as well as current technical developments of SIMS application in nanoparticle surface chemical analysis are equally discussed.

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Autor*innen:Kaija Schaepe, H. Jungnickel, Thomas Heinrich, J. Tentschert, A. Luch, Wolfgang UngerORCiD
Persönliche Herausgeber*innen:Vasile-Dan Hodoroaba, Wolfgang Unger, A. G. Shard
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Characterization of nanoparticles - Measurement processes for nanoparticles
Jahr der Erstveröffentlichung:2020
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Erste Seite:481
Letzte Seite:509
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Core-shell; Imaging; Nanomaterials; Nanoparticles; Surface chemical analysis; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Nano
DOI:10.1016/B978-0-12-814182-3.00025-0
ISBN:978-0-12-814182-3
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/50284
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:22.01.2020
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:18.06.2020
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