Mapping of local lattice parameter ratios by projective Kikuchi pattern matching
- We describe a lattice-based crystallographic approximation for the analysis of distorted crystal structures via Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in the scanning electron microscope. EBSD patterns are closely linked to local lattice parameter ratios via Kikuchi bands that indicate geometrical lattice plane projections. Based on the transformation properties of points and lines in the real projective plane, we can obtain continuous estimations of the local lattice distortion based on projectively transformed Kikuchi diffraction simulations for a reference structure. By quantitative image matching to a projective transformation model of the lattice distortion in the full solid angle of possible scattering directions, we enforce a crystallographically consistent approximation in the fitting procedure of distorted simulations to the experimentally observed diffraction patterns. As an application example, we map the locally varying tetragonality in martensite grains of steel.
Autor*innen: | A. Winkelmann, Gert Nolze, G. Cios, T. Tokarski |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Physical review materials |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 5 Werkstofftechnik |
5 Werkstofftechnik / 5.1 Mikrostruktur Design und Degradation | |
Verlag: | American Physical Society |
Verlagsort: | College Park, MD |
Jahrgang/Band: | 2 |
Ausgabe/Heft: | 12 |
Erste Seite: | 123803, 1 |
Letzte Seite: | 15 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | EBSD; Orientation refinement; Scanning electron microscopy |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
DOI: | 10.1103/PhysRevMaterials.2.123803 |
ISSN: | 2475-9953 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 01.02.2019 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 01.02.2019 |