Back scatter X-ray imaging with twisted slit collimator – quantitative simulation and comparison to experiments
- X-ray backscatter imaging is a well-established NDT technique to inspect complex objects using only a single-sided access. We present a specially designed multi-slit scatter camera consisting of several twisted slits which are parallelly arranged in a metal block. The camera projects one image per slit to the digital detector array, where the images are overlaying each other. The aperture is corrected based on a deconvolution algorithm to focus the overlaying projections into a single representation of the object. In order to achieve high backscatter intensities from an object, it is necessary to optimize the parameters of the backscatter system by simulation.
Autor*innen: | Gerd-Rüdiger Jaenisch |
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Koautor*innen: | Frank Wieder, Carsten BellonORCiD, Uwe Ewert, Justus Vogel, Sanjeevareddy Kolkoori, Uwe ZscherpelORCiD |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2017 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Aperture focusing; Back scatter imaging; Computer simulation; Deconvolution |
Veranstaltung: | 2017 Far East Forum on Nondestructive Evaluation & Testing |
Veranstaltungsort: | Xi`an, China |
Beginndatum der Veranstaltung: | 21.06.2017 |
Enddatum der Veranstaltung: | 24.06.2017 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 22.09.2017 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |