A new reference material for the determination of the Field of View of Small Area XPS

  • Small Area Photoelectron Spectroscopy (XPS) is a powerful tool for investigating small surface features. It is often unclear, if the signal in the spectrum is an unwanted contamination of the Field of View (FoV) or is it originated from outside. The reason is, that XPS-spectra are affected by beam shapes. Scheithauer proposed to measure Pt apertures of different diameters and normalize the Pt4f count rate by a second measurement on the Pt metal. New reference materials were developed and tested in the VAMAS TWA2 A22 Project.

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  • 2019_09_02_POSTER_STOCKMANN_ECASIA_2019.pdf
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Autor*innen:Jörg M. Stockmann
Koautor*innen:Jörg Radnik, S. Bütefisch, I. Busch, C. Passiu, A. Rossi, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Field of Analysis; Reference material; Selected Area XPS; Small Area XPS; Small Spot XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:ECASIA 2019
Veranstaltungsort:Dresden, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:15.09.2019
Enddatum der Veranstaltung:20.09.2019
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:10.10.2019
Referierte Publikation:Nein
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