The determination of residual stress
- X-ray stress analysis on crystalline materials is based on the determination of elastic lattice strains. The strains described by the shift of peak positions are converted to stresses by the means of theory of elasticity. The development of the sin2ψ-method of X-ray stress analysis introduced an enormous progress in X-ray stress analysis during the last decades. This report outlines some important elements of X-ray physics and fundamentals of theory of elasticity. The Standard measuring procedure are described and special experimental differences to the common powder diffractometry are outlined.
Autor*innen: | Gert Nolze |
---|---|
Persönliche Herausgeber*innen: | S. P. Sen Gupta, P. Chatterjee |
Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Powder diffraction : proceedings of the II International School on Powder Diffraction |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2002 |
Verlag: | Allied Publishers |
Verlagsort: | Kolkata, India |
Erste Seite: | 77 |
Letzte Seite: | 83 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Residual stress; XRD |
ISBN: | 81-7764-262-6 |
ISBN: | 9788177642629 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 01.11.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |