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Characterization of industrial graphene using HAXPES

  • A comparative analysis is performed by XPS, HAXPES and SEM of industrial functionalised graphene powder of different morphology. The chemical analysis carried out by XPS, which probing depth is around 10nm, and HAXPES, which can reach up to 30nm probing depth. By combining these two techniques is possible to get a rough, non-destructive depth profiling of the sample's surface. The results show a higher concentration of the functionlisation elements on the surface of the sample and the influence of the morphology on the functionalisation process and the C/O ratio.

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Autor*innen:Giovanni Chemello
Koautor*innen:Jörg Radnik, Vasile-Dan Hodoroaba
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Graphene; Graphene funcionalisation; HAXPES; SEM; XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:SALSA Make and Measure 2022
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:15.09.2022
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:13.10.2022
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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