Computer Tomography used for inspection of critical Zones in AM parts
- Overview on CT for AM, starting from the CT principle, the added value of CT in Additive Manufacturing (AM), examples of CT results on AM workpieces and conclusions.
Autor*innen: | Uwe ZscherpelORCiD |
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Koautor*innen: | J. Lübbehüsen |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Added Value; Additive Manufacturing; Computed Tomographie |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | IIW Annual Assembly 2018, joint seminar on AM |
Veranstaltungsort: | Bali, Indonesia |
Beginndatum der Veranstaltung: | 15.07.2018 |
Enddatum der Veranstaltung: | 18.07.2018 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 11.02.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |