Analytical and topographical Reference Material for the Nanoscale
- Reliable standards are required to support research and development as well as end-user in application. Appropriate standards have to fulfill three requirements: small uncertainty, easy to use and low overall costs of application. For calibration of microscopes at nanoscale and/or element analysis special requirements for standards are given, which are challenging in manufacture.
Autor*innen: | I. Busch, Wolfgang UngerORCiD |
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Koautor*innen: | S. Bütefisch, O. Lenck, L. Koenders, T. Weimann, M. Weinert |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Imaging; NoStep Standards; Reference material; XPS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | Workshop on Reference Nanomaterials |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 14.05.2018 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 13.06.2018 |
Referierte Publikation: | Nein |