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Elemental composition of an ionic liquid surface

  • (1) First results show the suitability of IL as reference for quantification of XPS (at least for organic materials). (2) Different quantification methods lead to similar results (with a slight advantage for “background method”). (3)Promising reference material for a better understanding and traceable protocols for the quantification of organic materials with XPS.

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Autor*innen:Jörg RadnikORCiD
Koautor*innen:B. Reed, A. Shard
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2021
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Ionic liquid; Quantification; X-ray photoelectron spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:BIPM / SAWG Spring Meeting
Veranstaltungsort:Online meeting
Beginndatum der Veranstaltung:12.05.2021
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:31.05.2021
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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