Time- and lateral-resolved X-ray absorption fine structure spectroscopy
- We developed a setup for time- and lateral-resolved X-ray absorption fine structure (XAFS) spectroscopy. A dispersive element is placed behind the sample to investigate. The broadband incoming beam transmits the sample, is then dispersed and finally collected by a position sensitive detector. This allows the recording of a whole X-ray absorption near edge structure (XANES) or extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) spectrum in a single shot. The dispersive element is a Si(111) crystal, bent by means of a so called wafer bender, developed in house. Our setup is very flexible, easy to adjust and allows a time resolution down to one second which can be used to follow chemical reactions with dynamics on this time scale.
Autor*innen: | Anicó KulowORCiD |
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Koautor*innen: | Ana de Oliveira Guilherme BuzanichORCiD, Uwe Reinholz, Martin RadtkeORCiD, Heinrich Riesemeier, C. Streli |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.3 Strukturanalytik | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Absorption; Spectroscopy; Synchrotron; X-ray |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | SXR2019 |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 16.09.2019 |
Enddatum der Veranstaltung: | 20.09.2019 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 23.09.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |