X-ray refraction 2D and 3D techniques
- X-ray refraction techniques represent a very promising, yet not so wide-spread, set of X-ray techniques based on refraction effects. They allow determining internal specific surface (surface per unit volume) in a non-destructive fashion, position and orientation sensitive, and with nanometric detectability. While they are limited by the X-ray absorption of the material under investigation, we demonstrate showcases of ceramics and composite materials, where understanding of microstructural features could be achieved in a way unrivalled even by high-resolution techniques such as electron microscopy or computed tomography.
Autor*innen: | Giovanni BrunoORCiD |
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Koautor*innen: | Andreas KupschORCiD, Bernd R. Mueller, Axel Lange |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2017 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten | |
Freie Schlagwörter: | Cearmics; Composites; Cracks; Damage; X-ray refraction |
Veranstaltung: | ICTMS 2017 |
Veranstaltungsort: | Lund, Sweden |
Beginndatum der Veranstaltung: | 26.06.2017 |
Enddatum der Veranstaltung: | 30.06.2017 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 18.07.2017 |
Referierte Publikation: | Nein |