Characterization of industrial graphene using HAXPES
- A comparative analysis is performed by XPS, HAXPES and SEM of industrial functionalised graphene powder of different morphology. The chemical analysis carried out by XPS, which probing depth is around 10nm, and HAXPES, which can reach up to 30nm probing depth. By combining these two techniques is possible to get a rough, non-destructive depth profiling of the sample's surface. The results show a higher concentration of the functionlisation elements on the surface of the sample and the influence of the morphology on the functionalisation process and the C/O ratio.
Autor*innen: | Giovanni Chemello |
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Weitere Person: | Jörg RadnikORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2022 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | Graphene; Graphene funcionalisation; HAXPES; SEM; XPS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | SALSA Make and Measure 2022 |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 15.09.2022 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 13.10.2022 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |