Measurement of the morphology of graphene related 2D materials as flakes
- The presentation shows the results of the mini-interlaboratory comparison focused on the measurement of the morphology of graphene oxide flakes using scanning electron microscopy. In this work, a route for the sample preparation, SEM measurement and image analysis is proposed. The results of the image analysis, performed on 200+ flakes per sample, are presented by comparing the distributions of the size and shape descriptors calculated according to two different approaches. The influences of a different SEM measurement operator, analysis approach and analysis operator on the final size and shape distributions are highlighted.
Autor*innen: | Giovanni Chemello |
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Weitere Person: | Jörg RadnikORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2023 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten |
Freie Schlagwörter: | 2D flakes; Graphene oxide; Image analysis; SEM |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Material |
Material / Nano | |
Veranstaltung: | EMRS Fall 2023 |
Veranstaltungsort: | Warsaw, Poland |
Beginndatum der Veranstaltung: | 18.09.2023 |
Enddatum der Veranstaltung: | 21.09.2023 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 06.11.2023 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |