• search hit 34 of 1865
Back to Result List

Quality Assurance and Regularity of SMC-Materials

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author:Michael Schemme, Gottfried Wilhelm Ehrenstein
Parent Title (English):Tagungsband 50th SPI Conference
Place of publication:Cincinnati
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Publication Year:1995
Tag:FVK
Dewey Decimal Classification:6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 62 Ingenieurwissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten