Distinguishing characteristic defect in additively manufactured Ti-Al6-V4 with synchrotron X-ray refraction radiography
- Synchrotron X-ray refraction radiography (SXRR) is proven to identify different kinds of defects in Ti-Al6-V4 samples produces by selective laser melting. Namely, these defect types are empty pores and unprocessed powder, which are characteristic to the regions above and below the optimal laser energy density, respectively. Furthermore, SXRR detects small defects below the spatial resolution.
Autor*innen: | René LaquaiORCiD |
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Koautor*innen: | Bernd R. MüllerORCiD, G. Kasperovich, J. Haubrich, G. Requena, Giovanni BrunoORCiD |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2017 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Additive manufacturing; Porosity; X-ray refraction |
Veranstaltung: | BESSY User Meeting |
Veranstaltungsort: | Berlin, Germany |
Beginndatum der Veranstaltung: | 13.12.2017 |
Enddatum der Veranstaltung: | 15.12.2017 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 15.12.2017 |
Referierte Publikation: | Nein |