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Topical issue: Ellipsometry

  • Ellipsometry is a matured experimental method, whose roots reach back into the early phase of modern optics itself. It is often attributed to be invented by Paul Drude in the last decade of the 19th century, but similar techniques had already been applied for years before Drude started his work. With this Special Issue about ellipsometry and related techniques, we hope to bring more attention to this method and advance and propagate it to be used by a broader community.

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Metadaten
Persönliche Herausgeber*innen:R. Schmidt-Grund, C. Sturm, Andreas Hertwig
Dokumenttyp:Zeitschriftenheft (Herausgeberschaft für das komplette Heft)
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Advanced optical technologies
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Verlag:De Gruyter
Verlagsort:Berlin
Jahrgang/Band:11
Ausgabe/Heft:3-4
Erste Seite:47
Letzte Seite:147
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Advanced optics; Ellipsometry; Optical measurement technology; Spectroscopy; Surfaces; Thin films
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
URL:https://www.degruyter.com/journal/key/aot/11/3-4/html#contents
ISSN:2192-8584
ISSN:2192-8576
Zugehöriger Identifikator:https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/55467
Zugehöriger Identifikator:https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:kobv:b43-551026
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:12.08.2022
Referierte Publikation:Nein
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