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SAFT und TOFD - Ein Vergleich im Analyseverhalten von Reflektoren

  • Mit der Gruppenstrahlertechnik der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung sind umfangreiche Untersuchungen an einer plattierten Druckbehälter-Testwand durchgeführt worden. In der vorliegenden Testwand mit einer Wanddicke von 149 mm befinden sich künstliche Testreflektoren im Schweißnaht- und Plattierungsbereich, die mit Gruppenstrahler- Prüfköpfen mit unterschiedlichen Frequenzen, Einschallwinkeln und Einschallrichtungen nachgewiesen und in ihrem Anzeigenverhalten analysiert wurden. Zur Rekonstruktion der Reflektoranzeigen wurde ein SAFT - Algorithmus verwendet, der die Variation der Einschallwinkel berücksichtigt. Zum Vergleich sind die Reflektoren auch mit der TOFD - Technik analysiert worden. Ziel der Untersuchungen war der direkte Vergleich der Eignung der SAFT- und TOFDTechnik zur quantitativen Reflektorgrößenbestimmung.

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Autor*innen:Jessica Kitze, Daniel Brackrock, Gerhard Brekow, Jens PragerORCiD, Mate GaalORCiD, Marc Kreutzbruck, D. Szabo, K. Kuti, G. Paczolay
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):DGZfP-Jahrestagung 2010
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. (DGZfP)
Verlagsort:Berlin
Ausgabe/Heft:DGZfP-BB 122 (Mi.2.A.3)
Erste Seite:1
Letzte Seite:11
Veranstaltung:DGZfP-Jahrestagung 2010
Veranstaltungsort:Erfurt, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2010-05-10
Enddatum der Veranstaltung:2010-05-12
ISBN:978-3-940283-26-9
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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