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Performance Check of EDS X-Ray Spectrometers - Extension to high Count Rates

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Koautor*innen:Andreas Lippitz, Benedikt Kraft, Vanessa Rackwitz, R. Terborg
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Microscopy & Microanalysis 2011 Meeting
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Veranstaltung:Microscopy & Microanalysis 2011 Meeting
Veranstaltungsort:Nashville, TN, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2011-08-07
Enddatum der Veranstaltung:2011-08-11
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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