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Plikat, B. (1)
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Erscheinungsjahr
2003
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Dokumenttyp
Artikel (peer reviewed)
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Sprache
Englisch
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Reliability aspects of semiconductor devices in high temperature applications
(2003)
Kanert, W.
;
Dettmer, H.
;
Plikat, B.
;
Seliger, Norbert
1
bis
1