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Unger, Wolfgang (10)
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2015 (10)
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Vortrag
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Deutsch
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Metrology for spatially resolved chemical analysis at the micro and nanometre scales Surface Analysis Working Group (SAWG) - Report for 13th Meeting (2014/15)
(2015)
Unger, Wolfgang
Programmable ordered multiayers of nanometer-sized macrocycles and switchable rotaxanes on solid support
(2015)
Unger, Wolfgang
OBERFLÄCHEN- UND GRENZFLÄCHENANALYTIK MIT DEN VERFAHREN PHOTOELEKTRONEN-, AUGER-ELEKTRONENSPEKTROSKOPIE UND SEKUNDÄRIONEN-MASSENSPEKTROMETRIE
(2015)
Unger, Wolfgang
Determination of lateral resolution and field of view in imaging and small area surface chemical analysis: Reference materials and standardization
(2015)
Unger, Wolfgang
Fabrication, microscopic and spectroscopic characterization of planar, nanopatterned,multi-metallic samples C
(2015)
Unger, Wolfgang
Traceability of PDMS on TiO2 and HDPE substrates by a multi analytical approach
(2015)
Unger, Wolfgang
Traceable and Absolute Quantification of Silane Molecules on Silica Surfaces
(2015)
Unger, Wolfgang
Traceable and Absolute Quantification of Silane Molecules on Silica Surface
(2015)
Unger, Wolfgang
NanoValid - Developing Reference Methods for Nanomaterials
(2015)
Unger, Wolfgang
Surface Chemical Analysis at BAM: R&D, Metrology, Standardization
(2015)
Unger, Wolfgang
1
bis
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