Depth profiling of multilayered samples by GDOES and plasma SNMS

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):8. Deutsches Anwendertreffen "Analytische Glimmentladungsspektrometrie"
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Veranstaltung:8. Deutsches Anwendertreffen "Analytische Glimmentladungsspektrometrie"
Veranstaltungsort:Dortmund, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2001-08-24
Enddatum der Veranstaltung:2001-08-24
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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