Depth profile measurements of electrically non-conductive layered samples by RF-GDOES, HFM plasma SNMS and TOF-SIMS
MetadatenAutor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Koautor*innen: | Wolfgang UngerORCiD, H. Jenett, V. Hoffmann, B. Hagenhoff, S. Kayser, K. Wetzig |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 11. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik AOFA11 |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2000 |
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Veranstaltung: | 11. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik AOFA11 |
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Veranstaltungsort: | Leipzig, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2000-09-24 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2000-09-28 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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