Depth profile measurements of electrically non-conductive layered samples by RF-GDOES, HFM plasma SNMS and TOF-SIMS

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Koautor*innen:Wolfgang UngerORCiD, H. Jenett, V. Hoffmann, B. Hagenhoff, S. Kayser, K. Wetzig
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):11. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik AOFA11
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Veranstaltung:11. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik AOFA11
Veranstaltungsort:Leipzig, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2000-09-24
Enddatum der Veranstaltung:2000-09-28
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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