Improved approaches to the determination of residual stresses in micro regions with the KOSSEL and the XRT technique

  • A new application of the KOSSEL and the XRT (X-ray Rotation-Tilt) technique arises from local residual stress measurements in micro regions. Already in 1996/97, we started to conduct such investigations based on the KOSSEL method. Because of the high lateral resolution residual stresses of the third kind can be determined. Some further evaluation procedures are described.

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Metadaten
Autor*innen:J. Bauch, Stefan Wege, M. Böhling, H.-J. Ullrich
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Crystal research and technology
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Verlag:Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
Verlagsort:Weinheim
Jahrgang/Band:39
Ausgabe/Heft:7
Erste Seite:623
Letzte Seite:633
Freie Schlagwörter:Determination of lattice parameters; Determination of resudal stress; KOSSEL technique; X-ray microdiffraction; XRT technique
DOI:10.1002/crat.200310234
ISSN:0023-4753
ISSN:1521-4079
ISSN:0232-1300
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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