X-Ray Diffraction Scanning Microscopy - A new method of nondestructive Characterization of inhomogeneous materials

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Autor*innen:Manfred P. Hentschel, Axel Lange, Karl-Wolfram Harbich
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Development of fabrication methods for metallic multilayer structures (MBB-Bericht. Z 301-90 PUB)
Jahr der Erstveröffentlichung:1990
Herausgeber (Institution):Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH (MBB)
Verlag:Zentrale Berichtsstelle, Technisch-wissenschaftliche Information, Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH
Verlagsort:München
Ausgabe/Heft:MBB-Z--0301-90-PUB
Erste Seite:447
Letzte Seite:450
Veranstaltung:ESA Symposium on Space Applications of Advanced Structural Materials (ESTEC)
Veranstaltungsort:Noordwijk, Netherlands
Beginndatum der Veranstaltung:1990-03-21
Enddatum der Veranstaltung:1990-03-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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