Sub-surface microstructural analysis
- Many performance properties of devices or interacting machine parts are related to superficial layers which often show completely different or at least modified microstructures compared to the bulk materials. A quasi non-destructive technique will be described which enables us to obtain detailed information of a material's state at a certain site of interest down to a depth of 10 µm from the surface with nanometre or even atomistic resolution.
Autor*innen: | Werner ÖsterleORCiD |
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Persönliche Herausgeber*innen: | Horst Czichos |
Dokumenttyp: | Buchkapitel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Handbook of technical diagnostics - Fundamentals and application to structures and systems |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2013 |
Verlag: | Springer |
Verlagsort: | Berlin Heidelberg |
Ausgabe/Heft: | Chapter 16 |
Erste Seite: | 323 |
Letzte Seite: | 337 |
Freie Schlagwörter: | FIB-Technik; Nanocharakterisierung; Randschichtanalyse; Zielpräparation |
DOI: | 10.1007/978-3-642-25850-3_16 |
ISBN: | 978-3-642-25849-7 |
ISBN: | 978-3-642-25850-3 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |