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Nanomechanical Characterization of Structural and Pressure-Sensitive Adhesives

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Autor*innen:Martin MunzORCiD, Heinz SturmORCiD
Persönliche Herausgeber*innen:B. Bhushan
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Applied scanning probe methods / 7: Biomimetics and industrial applications (NanoScience and technology)
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Verlag:Springer
Verlagsort:Berlin
Jahrgang/Band:7
Erste Seite:301
Letzte Seite:347
Freie Schlagwörter:Friction; Interface/Interphase Interdiffusion; Modulated Lateral Force Microscopy; Scanning Force Microscopy; Stiffness
DOI:10.1007/978-3-540-37321-6_8
ISBN:3-540-37320-9
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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