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Modulated lateral force microscopy: an AFM tool for analysis and modification of polymer surfaces

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Autor*innen:Heinz SturmORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Sektion Metall- und Materialphysik
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Veranstaltung:Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Sektion Metall- und Materialphysik
Veranstaltungsort:Regensburg, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2007-03-26
Enddatum der Veranstaltung:2007-03-30
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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