TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Modulated lateral force microscopy: an AFM tool for analysis and modification of polymer surfaces T2 - Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Sektion Metall- und Materialphysik T2 - Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Sektion Metall- und Materialphysik CY - Regensburg, Germany DA - 2007-03-26 PY - 2007 AN - OPUS4-18132 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -