Methods for simultaneous measurements of topography and local electrical properties using scanning force microscopy
Autor*innen: | Heinz SturmORCiD |
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Koautor*innen: | Wolfgang Stark, V. Bovtun, Eckhard Schulz |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 9th International Symposium on Electrets (ISE9) |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
Veranstaltung: | 9th International Symposium on Electrets (ISE9) |
Veranstaltungsort: | Shanghai, China |
Beginndatum der Veranstaltung: | 1996-09-15 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |