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Röntgen-Topographie mit Klein- und Weitwinkel-Streuung

  • Röntgen-Topographische Verfahren sind dadurch gekennzeichnet, daß die Streueigenschaften eines Probekörpers ortskorreliert erfaßt werden. Somit vereinigen sie die Vorzüge der bildgebenden Eigenschaft der Radiographie mit der Strukturselektivität der Röntgenanalyse. Sowohl die Röntgen-Weitwinkel-Streuung als auch die Röntgen-Kleinwinkel-Streuung (-Beugung und -Refraktion) werden topographisch für die Materialcharakterisierung eingesetzt. Die Topographie-Verfahren und Untersuchungsbeispiele an nichtmetallischen Werkstoffen werden dargestellt.

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Autor*innen:Manfred P. Hentschel, Karl-Wolfram Harbich, Axel Lange, Jörg Schors, Bernd R. MüllerORCiD
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):ZfP in Anwendung, Entwicklung und Forschung - Jahrestagung 2002
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung
Verlag:DGZfP
Verlagsort:Berlin
Ausgabe/Heft:80-CD
Freie Schlagwörter:Keramik; Komposite; Materialcharakterisierung; Röntgen-Streuung
Veranstaltung:Jahrestagung Zerstörungsfreie Materialprüfung 2002
Veranstaltungsort:Weimar, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2002-05-06
Enddatum der Veranstaltung:2002-05-08
URL:http://www.ndt.net/article/dgzfp02/papers/v15/v15.htm
ISBN:3-931381-39-0
Bemerkung:
Serientitel: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V. – Series title: Berichtsband / Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung e. V.
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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