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New X-ray refractography for non-destructive evaluation of advanced materials

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Autor*innen:Manfred P. Hentschel, Derk Ekenhorst, Karl-Wolfram Harbich, Axel Lange, Jörg Schors
Persönliche Herausgeber*innen:R. E. Green
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Nondestructive characterization of materials VIII
Jahr der Erstveröffentlichung:1998
Verlag:Plenum Press
Verlagsort:New York
Jahrgang/Band:8
Erste Seite:409
Letzte Seite:416
Veranstaltung:8th International Symposium on Nondestructive Characterization of Materials
Veranstaltungsort:Boulder, CO, USA
Beginndatum der Veranstaltung:1997-06-15
Enddatum der Veranstaltung:1997-06-20
ISBN:0-306-45900-0
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Pb 332
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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