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Unger, Wolfgang
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Imaging SIMS: Status and selected applications at BAM
(2013)
Unger, Wolfgang
The Activities of the CCQM Surface Analysis Working Group (SAWG) - Achievements and Challenges in Metrology in Surface and Thin Film Analysis
(2013)
Unger, Wolfgang
Der FB "Oberflächenanalytik und Grenzflächenchemie" der BAM: Referenzmaterialien für die Nanoanalytik und ausgewählte Beispiele angewandter Forschung
(2013)
Unger, Wolfgang
Metrology for Surface Chemical Analysis: Status and Challenges
(2013)
Unger, Wolfgang
Metrology for Nano-Analysis: Establishing Reference Methods for Characterizing Nano-Materials
(2013)
Unger, Wolfgang
Research and Standardisaton Efforts in Surface Characterisation at BAM in Support of New Technology
(2013)
Unger, Wolfgang
Metrology for spatially resolved chemical analysis at the micro and nanometre scales - Surface Analysis Working Group (SWAG) 11th Meeting for 2012/13
(2013)
Unger, Wolfgang
Summaries of achievements and future activities of the CCQM Surface Analysis Working Group (SAWG)
(2013)
Unger, Wolfgang
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