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Autor*in
Sellin, R. L. (1)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2004
(1)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Sammelband
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
Schlagworte
Laterale Auflösung
(1)
Nanometrologie
(1)
Nanotechnologie
(1)
Oberflächenanalytik
(1)
Zertifiziertes Referenzmaterial
(1)
1
Treffer
1
bis
1
Export
CSV
RIS
XML
100
10
20
50
100
Testing the Lateral Resolution in the Nanometre Range with a New Type of Certified Reference Material
(2004)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
;
Österle, Werner
;
Kaiander, I.
;
Sellin, R. L.
;
Bimberg, D.
1
bis
1
Einverstanden
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