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Tribological Characterisation of a-C:H Coatings at Room Temperature - Effect of Counterbody Material
(2004)
Diamantähnliche Kohlenstoffschichten (DLC) zeichnen sich durch ein sehr günstiges Reibungs- und Verschleißverhalten aus. Auf vielen Werkzeugen und hochbelasteten Bauteilen ist DLC daher bereits erfolgreich im Einsatz. In naher Zukunft wird die Bedeutung dieser Schichten als Oberflächenschutz in tribologischen Systemen weiter ansteigen.
Wie viele Applikationsbeispiele zeigen, ist die Leistungsfähigkeit von DLC als Schicht zur Verringerung von Reibung und Verschleiß zwar groß, weist aber auch Grenzen auf. Vor allem bei höheren Temperaturen (> 300 °C) treten Strukturveränderungen oder sogar Oxidationsvorgänge auf, die auch die tribologischen Eigenschaften der Schichten verschlechtern können.
Reibungs- und Verschleißuntersuchungen (Schwingungsverschleiß) von DLC-Schichten wurden im Temperaturbereich von 25 °C bis 250 °C durchgeführt und zeigen ein schnelleres Durchreiben der Schicht bei höheren Temperaturen. Die Lebensdauer der Schichten wird mit zunehmender Prüftemperatur reduziert. Einsatzgrenzen für DLC-Schichten können abgeleitet werden.
Stress is a normal part of life for fungi, which can survive in environments considered inhospitable or hostile for other organisms. Due to the ability of fungi to respond to, survive in, and transform the environment, even under severe stresses, many researchers are exploring the mechanisms that enable fungi to adapt to stress. The International Symposium on Fungal Stress (ISFUS) brings together leading scientists from around the world who research fungal stress. This article discusses presentations given at the third ISFUS, held in Sao Jose dos Campos, Sao Paulo, Brazil in 2019, thereby summarizing the state-of-the-art knowledge on fungal stress, a field that includes microbiology, agriculture, ecology, biotechnology, medicine, and astrobiology.
The thickness measurement of transparent layers with optical techniques is very problematic. The observed deviations can easily reach 100% of the layer thickness to be measured. In order to analyse these deviations, tactile reference measurements have been developed. The proposed method is based on contact mode measurements with low contact pressure. With stylus instruments, this can be realized either by using the recommended tip radius of 2 µm and very small probing forces in the micronewton range (and low scanning speeds of 50 µm s-1) or by using the recommended probing force of 750 µN, but a large probing tip radius. Three metal layers on silicon or silicon dioxide and two polymer resist materials on a thin chromium adhesive layer on silicon are used as artefacts. The comparison of the optical measurements with the tactile reference values disclosed deviations of the optical measurements of up to 195% of the layer thickness. Layer thicknesses were between 200 nm and 4 µm. This paper analyses the deviations of two white light interference microscopes, one phase shift interference microscope, one confocal microscope, one autofocus sensor, a chromatic sensor, an interferometric film thickness sensor and one spectroscopic ellipsometer. Simple and well-known expressions for the description of the observed deviations are presented and discussed. The order of magnitude of the observed deviations can be described well by these correction formulas but further investigations are necessary in order to better understand the systematic deviations of optical surface measuring instruments on non-cooperating surfaces.