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Autor*in
Rooch, Heidemarie
(1)
Erscheinungsjahr
2008
(1)
Dokumenttyp
Posterpräsentation (1)
(entfernen)
Sprache
Deutsch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
1
Treffer
1
bis
1
Export
CSV
RIS
XML
20
10
20
50
100
Zielpräparation mittels Focused Ion Beam für TEM-Untersuchungen, FIB-Präparation an mechanisch stark verformten Oberflächen und an Schichten, bei denen hohe innere Spannungen auftreten
(2008)
Rooch, Heidemarie
1
bis
1
Einverstanden
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