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Hentschel, Manfred P.
(2)
Lange, Axel
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Schors, Jörg
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Wald, Oliver
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Harbich, Karl-Wolfram
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Müller, Bernd R.
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Erscheinungsjahr
2007
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2005
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Dokumenttyp
Beitrag zu einem Sammelband
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Englisch
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Referierte Publikation
nein
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Schlagworte
X-ray topography (2)
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NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography
(2007)
Hentschel, Manfred P.
;
Harbich, Karl-Wolfram
;
Müller, Bernd R.
;
Lange, Axel
;
Schors, Jörg
;
Wald, Oliver
X-Ray Diffraction Topography images materials by molecular probe
(2005)
Hentschel, Manfred P.
;
Lange, Axel
;
Schors, Jörg
;
Wald, Oliver
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bis
2
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