Elementanalyse mit Röntgenfluoreszenzspektrometrie direkt am Materialstrom in Produktionsprozessen gewinnt zunehmend an Bedeutung. Die Röntgenfluoreszenzspektrometrie kann aufgrund der technischen Entwicklung mittlerweile ohne aufwändige Probenvorbereitung als aussagekräftige Informationsquelle für Stoffparameter im industriellen Prozess eingesetzt werden. Der Einsatz von online Röntgenfluoreszenzanalyse zahlt sich sowohl finanziell als auch zeitlich schnell aus, da sie sowohl für den ökonomischen Einsatz von Rohmaterialien, als auch z. B. im Materialrecycling zu gebrauchen ist. In diesem Beitrag werden vier unterschiedliche Einsatzmöglichkeiten beschrieben.
A new setup for fast spatially resolved measurements of elemental trace amounts under total reflection conditions using a new colour X-ray camera is described. Samples prepared on conventional total reflection X-ray fluorescence (TXRF) reflectors were measured at BESSY II synchrotron. A spatial resolution of 50 × 50 µm² was obtained, while the required time for the investigation of a 10 × 10 mm² sample is 30 seconds. The set-up is up to 350 times faster than conventional X-ray fluorescence systems for elemental traces. The major components of the X-ray camera are polycapillary optics and a pn-CCD chip with an active area of 13 × 13 mm². This area is divided into 264 × 264 pixels of 48 × 48 µm². A full X-ray spectrum with a resolution of 152 eV @ 5.9 keV and a chip temperature of 246 K is recorded for each pixel. The chip has a read-out rate of 400 Hz.