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Autor*in
Beck, Uwe
(1)
Erscheinungsjahr
2015 (1)
(entfernen)
Dokumenttyp
Sonstiges
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
Schlagworte
Ellipsometrie (1)
(entfernen)
1
Treffer
1
bis
1
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RIS
XML
10
10
20
50
100
Multidimensional Methods for Industrial Quality Assurance
(2015)
Beck, Uwe
The paper addresses the „Multidimensional Methods for Industrial Quality Assurance“ and the following points are discussed in more detail: thin film analysis, major trends regarding optical measuring methods.
1
bis
1
Einverstanden
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