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A VUV-XUV ellipsometric setup at BESSY II: Optical characterisation of Nitride Semiconductors
(2003)
Beck, Uwe
Ellipsometry and Standardisation: A Publicly Available Specification (PAS) for Ellipsometry - Measurement of Reference Coatings and Non-ideal Samples
(2003)
Beck, Uwe
Macroscopic Function vs. Microscopic and Nanoscopic Features: Multi-probe Testing of Surfaces and Thin Films by Optical Characterisation Techniques
(2004)
Beck, Uwe
Surfaces for Food Industry: Efects of Microscopic and Macroscopic Features, Roughness and Surface Energy on the Adhesion and Kinetics of Species
(2004)
Beck, Uwe
Safety of food production: Characterisation of sterile surfaces
(2006)
Beck, Uwe
Sicherheit bei der Produktion von Lebensmitteln: Eigenschaftsanalyse von sterilen Oberflächen
(2005)
Beck, Uwe
Charakterisierung von Oberflächen für die Steriltechnik
(2005)
Beck, Uwe
A publicly available specification (PAS) for ellipsometry: Measurement of reference coatings and non-ideal samples
(2003)
Beck, Uwe
Optimierung von Reinigungsverfahren bei Oberflächen mit Fehlstellen
(2003)
Beck, Uwe
Mechanical properties of ECR-Modified RF-PECVD a-C:H coatings
(2006)
Beck, Uwe
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