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Peplinski, Burkhard (14)
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Die Rietveld-Methode mit Fundamental-Parameter-Ansatz zur Analyse von Diffraktogrammen mit starken Überlagerungen
(2004)
Peplinski, Burkhard
Can the Rietveld method be successfully applied to the severely superimposed diffraction patterns of technical products containing seven solid solutions and a stoichiometric phase?
(2004)
Peplinski, Burkhard
Aspects of accuracy in the application of X-ray and neutron diffraction techniques to ceramics and catalysts
(2002)
Peplinski, Burkhard
Quantitative phase analysis using the Rietveld method - Estimates of accuracy and possible pitfalls derived from the outcomes of two interlaboratory comparisons
(2002)
Peplinski, Burkhard
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