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Achieving traceability of industrial computed tomography
(2010)
Bartscher, M.
;
Neukamm, M.
;
Hilpert, U.
;
Neuschaefer-Rube, U.
;
Härtig, F.
;
Kniel, K.
;
Ehrig, Karsten
;
Staude, Andreas
;
Goebbels, Jürgen
Dimensional control of micro components with synchrotron computed tomography
(2010)
Ehrig, Karsten
;
Bartscher, M.
;
Goebbels, Jürgen
;
Härtig, F.
;
Kniel, K.
;
Neukamm, M.
;
Neuschaefer-Rube, U.
;
Staude, Andreas
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