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Autor*in
Schröder, S. (1)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2011 (1)
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Dokumenttyp
Beitrag zu einem Sammelband
(1)
Sprache
Deutsch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
Schlagworte
AFM-Spitzencharakterisierer
(1)
Nanotopographie
(1)
Rasterkraftmikroskopie
(1)
Rauheit
(1)
Weißlichtinterferometrie
(1)
1
Treffer
1
bis
1
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CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Rauheitsbewertung beschichteter Oberflächen
(2011)
Herffurth, T.
;
Schröder, S.
;
Tan, Ö.
;
Apel, S.
;
Senoner, Mathias
;
Sahre, Mario
1
bis
1
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