Anmelden
Open Access
Startseite
Suchen
Browsen
Veröffentlichen
Hilfe
Schließen
Filtern
Autor*in
Bavendiek, K. (3)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2010
(1)
2009
(1)
2007
(1)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Tagungsband
(2)
Zeitschriftenartikel
(1)
Sprache
Englisch
(3)
Referierte Publikation
nein
(2)
ja
(1)
Schlagworte
Contrast sensitivity (3)
(entfernen)
3
Treffer
1
bis
3
Export
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
New compensation principles for enhanced image quality in industrial radiology with digital detector arrays
(2010)
Ewert, Uwe
;
Bavendiek, K.
;
Robbins, J.
;
Zscherpel, Uwe
;
Bueno, C.
;
Gordon, T.
;
Mishra, D.
Digital radiography - Films and digital detectors in comparison
(2009)
Ewert, Uwe
;
Zscherpel, Uwe
;
Beckmann, Jörg
;
Bavendiek, K.
Possibilities and Limits of Digital Industrial Radiology: The new high contrast sensitivity technique - Examples and system theoretical analysis
(2007)
Zscherpel, Uwe
;
Ewert, Uwe
;
Bavendiek, K.
1
bis
3
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.