Evolution of microstructure and its effect on creep behavior of single crystal superalloy SC16 under creep fatigue loading

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Gerhard Schumacher, Weiye Chen, G. Frohberg, R. P. Wahi
Persönliche Herausgeber*innen:T. Chandra
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):International Conference on Processing & Manufacturing of Advanced Materials
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Herausgeber (Institution):Minerals, Metals and Materials Society
Verlag:Elsevier Science
Freie Schlagwörter:Creep behavior; Creep fatigue; Rafting; SC16; Single crystal; Superalloy
Veranstaltung:International Conference on Processing & Manufacturing of Advanced Materials - Processing, Fabrication, Properties, Applications ; THERMEC 2000
Veranstaltungsort:Las Vegas, NV, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2000-12-04
Enddatum der Veranstaltung:2000-12-08
ISBN:0-08-044026-6
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.