Instrumental Specification for Semiconductor X-ray Detectors and their check in an Analytical Laboratory
MetadatenAutor*innen: | Mathias ProcopORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopia elettronica |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
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Verlag: | Società Italiana di Microscopia Elettronica |
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Verlagsort: | Modena |
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Jahrgang/Band: | 20 |
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Ausgabe/Heft: | 1 |
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Erste Seite: | 96 |
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Letzte Seite: | 103 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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