Instrumental Specification for Semiconductor X-ray Detectors and their check in an Analytical Laboratory

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Metadaten
Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopia elettronica
Jahr der Erstveröffentlichung:1999
Verlag:Società Italiana di Microscopia Elettronica
Verlagsort:Modena
Jahrgang/Band:20
Ausgabe/Heft:1
Erste Seite:96
Letzte Seite:103
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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