MetadatenAutor*innen: | Mathias Senoner, Uwe Beck, Wolfgang Paatsch |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Metalloberfläche |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
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Herausgeber (Institution): | Europäische Gesellschaft für Lackiertechnik |
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Verlag: | IGT, Informationsges. Technik |
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Verlagsort: | München |
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Jahrgang/Band: | 59 |
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Ausgabe/Heft: | 1-2 |
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Erste Seite: | 28 |
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Letzte Seite: | 31 |
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Freie Schlagwörter: | Nanometrologie; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; Qualitätssicherung; Schichtanalytik; Zertifiziertes Referenzmaterial |
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ISSN: | 0026-0797 |
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ISSN: | 0043-2792 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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